CR系统性能测试盘 / CR Phantom
CR系统性能测试盘可以测试所有相关CR系统的性能参数，包括基本空间分辨率，几何不清晰度，对比度，MTF，激光抖动，扫描器滑动和阴影。CR测试盘完全符合 ASTM E 2445-05, ISO 16371-1, EN 14784-1以及GB/T 21356-2008 《无损检测 计算机射线照相系统 的长期稳定性与鉴定方法》 等标准。根据这些标准规定，对CR系统必须定期测试，以确保其性能符合检测要求。
本CR测试盘超出标准的要求，集成了分别垂直放置的两组双丝像质计，以及两组阴影修正测量点，因此无需将CR测试盘旋转后进行二次射线透照，而通过单次透照即可获得全部信息，在提高效率的同时，还可获得更加精确的测试图像数据。
技术参数
| 尺寸（长×宽×厚） | 17″ × 14″ × 0.75″ (432 × 356 × 19 mm） |
| 说明： | |
| A – T型指示计 | 激光抖动测试，114 × 5 mm，黄铜 |
| B – 双丝像质计 | 两组互相垂直，测试基本空间分辨率，几何不清晰度 |
| C – BAM漩涡盘 | 中心束校准 |
| D – 楔形像质计 | 线对分辨率测试 |
| E – 阴影修正测试点 | 两组互相垂直的EL, EC, ER，阴影修正测试 |
| F – 暗盒定位计 | 用于暗盒定位校准，不显示在射线图像中 |
| G – 均匀铝制条 | 测试扫描器滑动和阴影 |
| H – 透明树脂托盘 | 支撑托盘 |
| I – 厘米/英寸标尺 | 线性检查 |
| J – 对比灵敏度像质计 | 对比灵敏度检查（铝：12.7mm 铜：6.35mm 不锈钢：6.35mm） |
