CR系统性能测试盘 / CR Phantom

CR系统性能测试盘
CR系统性能测试盘可以测试所有相关CR系统的性能参数,包括基本空间分辨率,几何不清晰度,对比度,MTF,激光抖动,扫描器滑动和阴影。CR测试盘完全符合 ASTM E 2445-05, ISO 16371-1, EN 14784-1以及GB/T 21356-2008 《无损检测 计算机射线照相系统 的长期稳定性与鉴定方法》 等标准。根据这些标准规定,对CR系统必须定期测试,以确保其性能符合检测要求。
本CR测试盘超出标准的要求,集成了分别垂直放置的两组双丝像质计,以及两组阴影修正测量点,因此无需将CR测试盘旋转后进行二次射线透照,而通过单次透照即可获得全部信息,在提高效率的同时,还可获得更加精确的测试图像数据。
CR系统性能测试盘-1

技术参数

尺寸(长×宽×厚)  17″ × 14″ × 0.75″ (432 × 356 × 19 mm)
说明:
A – T型指示计 激光抖动测试,114 × 5 mm,黄铜
B – 双丝像质计 两组互相垂直,测试基本空间分辨率,几何不清晰度
C – BAM漩涡盘 中心束校准
D – 楔形像质计 线对分辨率测试
E – 阴影修正测试点 两组互相垂直的EL, EC, ER,阴影修正测试
F – 暗盒定位计 用于暗盒定位校准,不显示在射线图像中
G – 均匀铝制条 测试扫描器滑动和阴影
H – 透明树脂托盘  支撑托盘
I – 厘米/英寸标尺 线性检查
J – 对比灵敏度像质计 对比灵敏度检查(铝:12.7mm  铜:6.35mm  不锈钢:6.35mm)

最近更新

合作伙伴

  • Varex Imaging NDT Solutions (Known as VMI)
  • YXLON


2025远东无损检测新技术大会第一次筹备会顺利召开

———   湖北 ● 武汉   ———


2025远东无损检测新技术大会第一次筹备会于2024年11月2日在湖北省武汉市顺利召开。来自全国各地的高等院校、行业、企事业单位、检验检测机构的四十余名代表出席了会议。




NEWS

在本次会议上,通过了“远东无损检测新技术论坛”改名为“远东无损检测新技术大会”(简称“远东大会”)的建议。


会议对2024远东论坛进行了总结,在肯定成功项目的同时,寻找存在的问题与不足,在此基础上提出2025远东大会的改进提高具体措施和创新建议方案。

会议一致同意2025 远东大会牵头承办单位为中核武汉核电运行技术股份有限公司(核动力运行研究所)和武汉大学。有关工作人员汇报了对武汉市内及周边适合举办2025远东大会的会议宾馆的考察情况。会议一致同意2025大会在2025年6月下旬举办。

会议研究了 2025 远东大会下一阶段筹备工作。从即日起到第二次筹备会召开期间,要落实第一次筹备会提出的计划与各项任务,包括敲定大会举办城市及宾馆,敲定大会开幕具体时间和大会主席人选;敲定承办单位、协办单位、支持单位名单;敲定论文推荐期刊名单;敲定专场分会场设置方案和负责人;敲定远东大会奖励项目,以及荣誉奖、成就奖、论文奖、业绩奖等各奖项的推荐评选时间表。敲定邀请外宾计划和重点大会报告计划。第二次筹备会后将发布 2025 远东大会预通知。

会议决定在适当时机提交IEEE会议申请。

远东论坛砥砺前行二十年,留下了闪闪发光的足迹。在这20年里,中国的无损检测新技术突飞猛进,远东论坛推动无损检测科技进步的作用有目共睹。

远东大会将继承远东论坛的光荣传统,持续改革创新,力争百尺竿头更进一步。可以相信,在所有志愿者的辛勤努力下,在广大无损检测科技工作者积极参与下,2025远东大会必将开成更加辉煌的行业盛会。